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公司为你介绍到：特性：微型双头测试弹簧探针：减少待测器件上测试球的共面性。间距：0.3毫米到1.27毫米，测试弹簧探针长度短，减少电容、电感和接触电阻，良好的电气性能：适合高频/高速测试，如：rf射频器件，特殊管状设计:确保接触性能一致，寿命长: > 500 k, 接近1000 k的插入。焊料移位zui小化，维护需求少，大量不同形状的冲头尺寸可选，各种不同的的冲头电镀。
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根据客户的测试要求，使用数次，图纸，测试数量，进行设计！灵活使用座头，快手夹结构，cnc高精密加工，保证模具限位精准，追求操作简单，经济，效率，性能可靠，手动，气动均可。探针可更换，维修方便，成本低,夹具采用绝缘材料：电木、fr4，使用寿命30万次以上，zui小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）。
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测试座特点：以排针方式引出芯片所有引脚，引脚间距为2.54mm（100mil），板载jtag、swd、uart1接口，可直接对相关型号进行测试、烧写，板载高速外部晶振插座（晶振可自定义），板载低速外部晶振（32.768k），板载两个led，可用于测试状态指示（可跳开跳线，不占用i/o资源）

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